涂層測(cè)厚儀MiniTest70F
上海雙旭涂層測(cè)厚儀 MiniTest 70F
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)（Fe）/ 渦流（NFe）
測(cè)量范圍：0~2000μm（Fe），0~2000μm（NFe，視基材和涂層材料而定）
分辨率：0.1μm / 1μm（自動(dòng)切換）
測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm），具體取決于測(cè)量條件和校準(zhǔn)
探頭類型：一體式內(nèi)置探頭或分體式探頭（可選）
基材識(shí)別：自動(dòng)識(shí)別鐵基（Fe）或非鐵基（NFe）
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常可存儲(chǔ)數(shù)百至數(shù)千組測(cè)量數(shù)據(jù)（具體容量視型號(hào)配置）
顯示：背光LCD顯示屏
電源：AA電池或可充電電池
工作溫度：通常0°C ~ 40°C
外殼材質(zhì)：工程塑料，具有一定的防塵防濺能力
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和表面狀態(tài)的校準(zhǔn)片上校準(zhǔn)，測(cè)量不同基材或涂層類型時(shí)需重新校準(zhǔn)。
基材影響：基材的厚度、材質(zhì)、形狀（曲率）和表面粗糙度會(huì)顯著影響測(cè)量精度，需根據(jù)情況評(píng)估或補(bǔ)償。
測(cè)量壓力與方向：測(cè)量時(shí)探頭需垂直、平穩(wěn)接觸被測(cè)表面，避免傾斜或施加過(guò)大壓力。
環(huán)境干擾：強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或劇烈溫度變化可能干擾測(cè)量，應(yīng)避免在此類環(huán)境中使用。
探頭保護(hù)：避免探頭接觸硬物或腐蝕性物質(zhì)，防止磨損或損壞。分體式探頭連接線避免過(guò)度彎折。
表面清潔：被測(cè)表面必須清潔，無(wú)油污、灰塵、氧化皮或其他附著物。
電池管理：電量不足時(shí)及時(shí)更換或充電，防止數(shù)據(jù)丟失或測(cè)量誤差增大。長(zhǎng)期不用應(yīng)取出電池。
數(shù)據(jù)驗(yàn)證：對(duì)于關(guān)鍵測(cè)量，建議在已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上復(fù)驗(yàn)儀器狀態(tài)。
存儲(chǔ)與運(yùn)輸：存放于干燥、無(wú)腐蝕性氣體的環(huán)境中，運(yùn)輸時(shí)防止劇烈震動(dòng)和撞擊。 |
