上海雙旭縱波直探頭試塊1#~2#介紹

產(chǎn)品參數(shù)

型號(hào)：1#試塊、2#試塊

材料：45#鋼或等效鋼制材料，經(jīng)熱處理調(diào)質(zhì)

表面粗糙度：Ra ≤ 1.6μm

主要用途：用于縱波直探頭的入射點(diǎn)、折射角（K值）測(cè)定及距離-振幅曲線（DAC）制作

1#試塊（短橫孔試塊）：通常包含一組不同深度的短橫孔，用于制作DAC曲線及靈敏度調(diào)整

2#試塊（標(biāo)準(zhǔn)試塊）：通常包含特定角度的反射體（如橫孔），用于測(cè)定探頭入射點(diǎn)與折射角

尺寸：根據(jù)具體型號(hào)，通常為長(zhǎng)方體或階梯狀設(shè)計(jì)，具體尺寸需參照出廠圖紙

適用標(biāo)準(zhǔn)：JB/T 10061、GB/T 18852等國(guó)內(nèi)超聲檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

使用注意事項(xiàng)

使用前需清潔試塊表面及探頭，確保無(wú)油污、銹跡及明顯劃傷

操作時(shí)耦合劑應(yīng)涂抹均勻，避免氣泡影響測(cè)量精度

測(cè)定折射角時(shí)，應(yīng)選擇試塊上規(guī)定的反射孔，并前后移動(dòng)探頭找到最大回波

制作DAC曲線時(shí)，需依次探測(cè)不同深度的參考反射體，并記錄波幅值

使用后應(yīng)及時(shí)擦拭試塊，涂抹防銹油并存放于干燥環(huán)境

定期校驗(yàn)試塊尺寸及反射體位置，確保其符合標(biāo)準(zhǔn)要求

避免碰撞或跌落，防止試塊產(chǎn)生機(jī)械損傷影響精度

不同材料的試塊不可混用，確保檢測(cè)參數(shù)的一致性