涂層測(cè)厚儀D3
上海雙旭涂層測(cè)厚儀D3涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：電磁感應(yīng) / 渦流原理（雙功能探頭，自動(dòng)識(shí)別基體）
測(cè)量范圍：0~2000μm（具體范圍可能因探頭和校準(zhǔn)而異）
分辨率：0.1μm / 1μm（根據(jù)量程自動(dòng)切換）
測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+零點(diǎn)）
最小曲率：凸5mm / 凹25mm
最小測(cè)量面積：直徑10mm
最小基體厚度：電磁法0.2mm，渦流法0.05mm
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備分組存儲(chǔ)功能，存儲(chǔ)容量視具體型號(hào)而定
顯示：背光LCD數(shù)字顯示
電源：AA電池（通常為2節(jié)）
工作溫度：0℃~40℃
外形尺寸與重量：緊湊型手持設(shè)計(jì)，具體尺寸重量請(qǐng)參考官方數(shù)據(jù)表
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和曲率的無(wú)涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并在標(biāo)準(zhǔn)片上驗(yàn)證。測(cè)量不同基體（鐵/非鐵）或量程時(shí)需重新校準(zhǔn)。
基體影響：基體材質(zhì)、厚度、曲率、表面粗糙度及剩磁（對(duì)磁性法）會(huì)顯著影響測(cè)量精度。確�；w厚度大于“最小基體厚度”。
測(cè)量表面：待測(cè)表面必須清潔、干燥、無(wú)油污、無(wú)銹蝕及附著物。粗糙表面應(yīng)取多次測(cè)量平均值。
探頭放置：測(cè)量時(shí)探頭需垂直、平穩(wěn)、緊密接觸被測(cè)表面，避免傾斜、晃動(dòng)或壓力不均。
邊緣效應(yīng)：避免在靠近邊緣、內(nèi)角或狹窄區(qū)域測(cè)量，探頭中心距邊緣應(yīng)大于探頭直徑。
環(huán)境干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)環(huán)境。極端溫度、濕度可能影響儀器性能。
維護(hù)：保持探頭清潔，避免磨損、撞擊或化學(xué)腐蝕。長(zhǎng)期不用應(yīng)取出電池。
數(shù)據(jù)解讀：對(duì)于多層涂層或特殊涂層（如非導(dǎo)電、磁性涂層），測(cè)量結(jié)果需謹(jǐn)慎評(píng)估，可能需特殊校準(zhǔn)或方法。 |
