試塊SD-IV

上海雙旭試塊SD-IV

產(chǎn)品參數(shù)

• 型號：SD-IV
• 材質(zhì)：鋼
• 標準：符合JB/T 10063-1999《超聲探傷用1號標準試塊技術(shù)條件》
• 尺寸：約225mm × 100mm × 25mm（長×寬×高）
• 主要用途：用于超聲波探傷儀的性能測試和校準，包括水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍、靈敏度余量、分辨力、盲區(qū)等指標的測試。
• 特征結(jié)構(gòu)：通常包含一組不同深度和直徑的平底孔（如Φ2、Φ3、Φ4等），以及用于測試斜探頭性能的曲面和棱角。

使用注意事項

• 清潔保養(yǎng)：使用前后需清潔試塊表面，防止油污、灰塵影響測試精度，使用后涂抹防銹油并妥善存放。
• 避免損傷：嚴禁磕碰、劃傷試塊，尤其是標準孔和反射面，任何損傷都可能導致校準數(shù)據(jù)失準。
• 環(huán)境要求：應(yīng)在溫度穩(wěn)定（建議20±5℃）、無強磁場和腐蝕性氣體的環(huán)境中使用和存放。
• 耦合劑：使用時需施加足量耦合劑（如機油、甘油），確保探頭與試塊表面接觸良好，減少聲能損失。
• 定期檢定：試塊屬于計量器具，需按周期送檢（通常一年一次），確保其尺寸和性能符合標準。
• 專用性：該試塊專用于超聲波探傷儀校準，不得用于其他檢測或作為普通工具使用。

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