覆層測厚儀TT260
上海雙旭覆層測厚儀TT260
產(chǎn)品參數(shù)
測量原理：磁性法（Fe）/渦流法（NFe）
測量范圍：0~1250μm（具體取決于探頭）
分辨率：0.1μm / 1μm
測量精度：±（1~3%H+1μm）
探頭類型：一體式或分體式可選
基體最小曲率：凸5mm / 凹25mm（取決于探頭）
基體最小面積：10mm x 10mm
最小測量厚度：0.15mm
顯示：LCD液晶顯示屏
電源：2節(jié)AA（5號）電池
操作溫度：0℃ ~ 40℃
存儲溫度：-20℃ ~ 70℃
使用注意事項
校準：使用前必須在與待測工件相同材質和表面狀態(tài)的基體上進行零點校準，并采用標準片進行多點校準。
基體影響：基體的磁性、導電性、厚度、曲率及表面粗糙度會顯著影響測量結果，需進行補償或評估。
探頭選擇：根據(jù)基體材質（鐵磁性或非鐵磁性）選擇對應探頭（Fe或NFe），并確保探頭與工件表面垂直穩(wěn)定接觸。
測量壓力：保持探頭以恒定、適當?shù)膲毫佑|被測表面，壓力過大會導致探頭磨損或測量值偏低。
邊緣效應：測量點應遠離邊緣、孔洞或劇烈彎曲處，一般需保持距離大于探頭直徑的3倍。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和標準片應與被測工件處于相同溫度條件下。
干擾源：遠離強磁場、強電場或強烈震動的環(huán)境，以免影響測量準確性。
維護：保持探頭清潔，避免磨損、撞擊或接觸腐蝕性物質。長期不用時應取出電池。 |
