HLX-J螺旋式測試架是一款專為精密電子元器件檢測設(shè)計(jì)的創(chuàng)新型輔助工具，其核心價值在于通過優(yōu)化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提升測試效率與操作體驗(yàn)。該產(chǎn)品采用模塊化組合方案，支持客戶根據(jù)被測物尺寸及測試需求靈活調(diào)整接觸點(diǎn)位布局，適配多種異形工件的穩(wěn)定裝夾需求。

主體結(jié)構(gòu)運(yùn)用高強(qiáng)度復(fù)合工程材料，通過精密加工工藝實(shí)現(xiàn)輕量化與耐久性的平衡，整體重量較傳統(tǒng)金屬材質(zhì)降低35%，在長時間連續(xù)作業(yè)場景中可有效降低操作人員疲勞度。核心接觸模塊采用多層復(fù)合鍍層工藝，接觸阻抗穩(wěn)定控制在5mΩ以下，確保信號傳輸可靠性的同時延長探針使用壽命。開放式框架設(shè)計(jì)配合360°可旋轉(zhuǎn)底座，為操作人員提供多角度觀測視角，便于復(fù)雜排線場景下的精準(zhǔn)對位。

該設(shè)備內(nèi)置自平衡壓力調(diào)節(jié)系統(tǒng)，可根據(jù)不同測試壓力需求進(jìn)行五檔位手動調(diào)節(jié)，接觸壓力偏差控制在±8%以內(nèi)，既能滿足微間距元器件的安全接觸要求，也可兼容較大尺寸封裝器件的穩(wěn)定測試。防靜電處理表面配合多點(diǎn)接地設(shè)計(jì)，在常規(guī)工作環(huán)境下可有效抑制靜電干擾。預(yù)留的標(biāo)準(zhǔn)接口支持快速接入主流測試平臺，兼容第三方檢測設(shè)備擴(kuò)展需求，顯著縮短產(chǎn)線設(shè)備切換時的調(diào)試時間。

針對多品種小批量生產(chǎn)場景，我們提供定制化探針排布服務(wù)，客戶可通過簡易的模塊替換方式完成測試架功能迭代，有效降低設(shè)備更新成本。配套的防塵防護(hù)罩與專用收納組件，確保設(shè)備在非工作時段保持潔凈狀態(tài)。經(jīng)過上千小時的實(shí)際工況驗(yàn)證，該產(chǎn)品在SMT后段測試環(huán)節(jié)中表現(xiàn)出穩(wěn)定的兼容性能，在汽車電子、智能穿戴等精密制造領(lǐng)域獲得良好應(yīng)用反饋。