涂層測(cè)厚儀TT230
上海雙旭涂層測(cè)厚儀TT230介紹
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁感應(yīng)/渦流原理（自動(dòng)識(shí)別基體）
測(cè)量范圍：0~1250μm（鋼/鐵基體）；0~1150μm（非鐵金屬基體，如鋁、銅）
分辨率：0.1μm（0~99.9μm）；1μm（100μm以上）
測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
最小曲率半徑：凸面1.5mm，凹面6mm
最小測(cè)量面積：直徑10mm
最薄基體厚度：0.4mm（磁感應(yīng)）；50μm（渦流）
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常可存儲(chǔ)數(shù)百組測(cè)量數(shù)據(jù)（具體容量視型號(hào)而定）
電源：2節(jié)AAA（7號(hào)）電池
顯示：LCD數(shù)字液晶顯示屏
工作溫度：0℃~40℃
外形尺寸/重量：約102mm×60mm×27mm / 約100g（不含探頭）
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和粗糙度的無(wú)涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，必要時(shí)使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。
基體影響：基體金屬的電導(dǎo)率、磁性、厚度、曲率及表面粗糙度會(huì)影響測(cè)量精度，需根據(jù)實(shí)際情況補(bǔ)償或校準(zhǔn)。
測(cè)量壓力：測(cè)量時(shí)探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地輕觸涂層表面，避免施加過(guò)大壓力導(dǎo)致涂層變形或探頭磨損。
邊緣效應(yīng)：避免在靠近工件邊緣、內(nèi)角或狹窄區(qū)域測(cè)量，通常需保持距離邊緣至少5mm以上。
表面清潔：確保被測(cè)表面清潔，無(wú)油污、灰塵、氧化皮等附著物，強(qiáng)磁性附著物會(huì)嚴(yán)重影響磁感應(yīng)測(cè)量結(jié)果。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和被測(cè)物應(yīng)處于相同溫度條件下。
探頭保護(hù)：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，測(cè)量粗糙表面時(shí)應(yīng)特別小心。長(zhǎng)期不使用時(shí)應(yīng)取出電池。
干擾物：測(cè)量時(shí)注意周圍是否存在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或其他電子設(shè)備干擾。 |
